N° de modèle : ci52
Ci52
Pour une mesure régulière du contrôle qualité
Un outil polyvalent de mesure des couleurs pour le contrôle qualité
Avantages :
- La grande fenêtre de visée permet de mesurer des objets et des échantillons de grande taille.
- Facile à utiliser. Son fonctionnement par simple fermeture, ses indicateurs d’état lumineux et sonores sont idéaux pour les opérateurs de tous niveaux de compétence.
- Des mesures rapides et précises en seulement 2 secondes pour les échantillons standard plats et les formes complexes.
- Mesure simultanée de la composante spéculaire incluse (couleur) et exclue (apparence) pour déterminer l’influence de ces composantes et fournir des données de couleur et d’apparence exactes.
- Le système embarqué NetProfiler optimise les performances des instruments et permet la certification à distance, ce qui garantit que l’instrument est toujours précis et son étalonnage valide. Bon accord inter-instruments avec les autres instruments de colorimétrie X-Rite.
Spécifications
Répétabilité à court terme - Blanc | .05 ΔE*ab on white ceramic |
---|---|
Géométrie de mesure | d/8° |
Accord inter-instrument | 0.20 ΔE*ab avg. |
Taille du point d'éclairage | 14mm |
Longévité de la lampe | Approx. 500,000 measurements |
Source lumineuse | Gas-filled tungsten lamp |
Durée d'un cycle de mesure | ≈ 2 seconds |
Mesure ponctuelle | 8mm |
Durée de mesure | ≈ 2 seconds |
Gamme photométrique | 0 to 200% |
Résolution photométrique | 0.01% |
Analyseur spectral | Blue-enhanced silicon photodiodes |
Intervalle spectral | 10nm |
Plage spectrale | 400nm-700nm |
Rapport spectral | 10nm |
Ouverture(s) de réflectance | 1 |
Humidité | 5% to 85%, non-condensing |
Plage des températures de service | 50° to 104°F (10° to 40°C) |
Plage des températures de stockage | '-4° to 122°F (-20° to 50°C) |
Dimensions (longueur, largeur, hauteur) | 21.3 cm 9.1 cm 10.9 cm |
Poids | 1.06 kg |
Dimensions du colis (longueur, largeur, hauteur) | 36cm, 30cm, 20cm |
Poids à l'expédition | '4kg |
Interface de communication | USB 2.0 |
Affichage de l'instrument | Backlit Color Graphic LCD |
Kit de développement logiciel | XDS4 |
Tension | 100-240VAC 50/60Hz,
12VDC @ 2.5A |
Étalonnage | White and Zero |
Prise en charge intégrée de NetProfiler | Yes |
Prise en charge de NetProfiler | Embedded |
Aperçu de l'échantillon | Targeting window |
Support de transformation | Embedded |
Garantie | 12 months |
Composants inclus | Instrument with white calibration standard, black trap, green standard, manual(CD), AC adapter, USB cable |
Accessoires et pièces détachées
Assistance
Micrologiciels: Logiciels:- NetProfiler 3 v3.5.7
- Ci5x Firmware v1.2.907
- Ci5x Firmware r1.1.802
- Ci5x Firmware r1.1.787
- Ci52 Instrument Driver v1.2
Formation
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Comparaison rapide
Répétabilité à court terme - Blanc | .05 ΔE*ab on white ceramic | .05 ΔE*ab on white ceramic | .05 ΔE*ab on white ceramic |
---|---|---|---|
Répétabilité à court terme - Bleu | |||
Géométrie de mesure | d/8° | d/8° | d/8° |
Durée de mesure | ≈ 2 seconds | ≈ 2 seconds | ≈ 2 seconds |
Gamme photométrique | 0 to 200% | 0 to 200% | 0 to 200% |
Intervalle spectral | 10nm | 10nm | 10nm |
Plage spectrale | 400nm-700nm | 400nm-700nm | 400nm-700nm |
Rapport spectral | 10nm | 10nm | 10nm |
Différences de couleur | [√/X], Δecmc, Δlab, ΔE00, Δreflectance, ΔE94, ΔXYZ, ΔL*a*b*, ΔYxy, , ΔL*C*h°, ΔL*u*v*, Verbal Difference | ||
Espaces chromatiques | Lab, L*a*b*, Reflectance, L*C*h°, Munsell Notation, XYZ, Yxy, L*u*v* | ||
Illuminants | A, C, D50, D65, F2, F7, F11 & F12 | ||
Angles d'observation | 2° & 10° | ||
Indices standard | [√/X], YI1925, WI Taube, ΔWI73, Reflectance, WI98, MI, Δreflectance, ΔWI Berger, WI73, MI6172, ΔYI98, ΔWI Hunter, Gray Scale, WI Berger, Gloss, ΔYI73, ΔWI Stensby, YI98, WI Hunter, ΔYI1925, ΔWI Taube, YI73, WI Stensby, ΔWI98, Averging, 555 Shade Sort | ||
Affichage de l'instrument | Backlit Color Graphic LCD | Backlit Color Graphic LCD | |
Standards de l'industrie |