短期繰り返し精度 - ホワイト | .05 ΔE*ab 白色セラミック上 |
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光学幾何条件 | d/8° |
器差 | 0.20 ΔE*ab avg. |
照明スポットサイズ | 14mm |
ランプ寿命 | Approx. 500,000 measurements |
光源 | Gas-filled tungsten lamp |
測定サイクルタイム | ≈ 2 seconds |
測定スポット | 8mm |
測定時間 | ≈ 2 秒 |
分光範囲 | 0 to 200% |
分光間隔 | 0.01% |
分光システム | Blue-enhanced silicon photodiodes |
分光間隔 | 10 nm |
分光範囲 | 400 nm~700 nm |
分光レポート出力 | 10 nm |
反射測定用アパーチャー | 1 |
湿度 | 5% to 85%, non-condensing |
操作温度範囲 | 50° to 104°F (10° to 40°C) |
保存温度範囲 | '-4° to 122°F (-20° to 50°C) |
製品寸法(奥行/幅/高さ) | 21.3 cm 9.1 cm 10.9 cm |
重量 | 1.06 kg |
梱包サイズ(奥行/幅/高さ) | 36cm, 30cm, 20cm |
出荷時重量 | '4kg |
インターフェース | USB 2.0 |
装置ディスプレイ | Backlit Color Graphic LCD |
ソフトウェア開発キット | XDS4 |
電圧 | 100-240VAC 50/60Hz,
12VDC @ 2.5A |
キャリブレーション | White and Zero |
NetProfiler | Yes |
NetProfiler ソフトウェアのサポート | Embedded |
サンプルのプレビュー | Targeting window |
変換機能 | Embedded |
製品保証 | 12 months |
同梱物 | Instrument with white calibration standard, black trap, green standard, manual(CD), AC adapter, USB cable |